Analyse von Polymeren und Kunststoffen

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Schadensanalyse

Bestimmen Sie die chemische Ursache von Produktfehlern.

LUMOS FT-IR-Mikroskop

Örtlich aufgelöste Analyse von Verunreinigungen und Inhomogenität.

Schadensanalytik von Kunststoffteilen

LUMOS FT-IR Mikroskop

Defekte von Polymer- und Kunststoffmaterialien sind oft auf die inhomogene Verteilung der eingesetzten Komponenten zurückzuführen. Andere Gründe können Kontaminationen wie Partikel, Fasern oder Einschlüsse sein. Im Fall von Verbundmaterialien kann eine aus dem falschen Material bestehende Schicht einen negativen Einfluss auf die Produkteigenschaften haben. Da solche Defekte oft extrem klein sind, ist eine Analyse mit makroskopischen Messmethoden schwierig oder gar nicht möglich. Jedoch ist die chemische Analyse der Defektstelle in der Probe eine notwendige Voraussetzung für eine erfolgreiche Fehlersuche.

Das FT-IR Mikroskop LUMOS ist ein leistungsfähiges Hilfsmittel bei der Schadensanalytik: Es erlaubt überall auf der Probe ein IR-Spektrum mit hoher örtlicher Auflösung zu messen und dadurch die chemische Zusammensetzung einer fehlerhaften Stelle in der Probe zu ermitteln.

  • Falsche Zusammensetzung
  • Einschlüsse
  • Ausblühungen
  • Verunreinigungen

Chemische Analyse von Produktfehlern

Beispiel der Analyse eines Produktfehlers mit dem LUMOS: Eine Charge Polyethylenpellets enthält braune Einschlüsse. Das visuelle, mikroskopische Bild eines Polyethylenpellets mit braunem Einschluss ist gezeigt zusammen mit den Messpositionen der IR-Analyse:

Mikroskopisches Bild eines Polyethylenpellets mit braunem Einschluss

Die IR-Spektren der PE Pelletmatrix (blau) unterscheiden sich deutlich von denen des unbekannten Einschlusses (rot). Der Vergleich mit einer Spektrenbibliothek identifiziert den Einschluss als Polyester (PET):

Spektrum

Lesen Sie die Applikationsnote zur Identifizierung der Verunreinigung einer Polycarbonatplatte
Lesen Sie die Applikationsnote zur Schadensanalyse von Verpackungsmaterialien
Lesen Sie die Applikationsnote zur Identifizierung von Partikeln und Einschlüssen
Lesen Sie die Applikationsnote zur IR-mikroskopischen Identifizierung von Fasern

FT-IR-Mikroskopie leicht gemacht

Das LUMOS ist ein kompaktes und eigenständiges Analysensystem mit einer vollständigen Automatisierung aller Gerätekomponenten. Die intuitive Software des LUMOS leitet den Anwender Schritt für Schritt durch die Datenaufnahme. Bei jedem Schritt zeigt die Benutzeroberfläche nur die Funktionen an, welche für den Fortschritt der Messung tatsächlich benötigt werden. Obwohl das LUMOS für die Nutzung unerfahrener Anwender für Routine-Fragestellungen optimiert ist, ermöglicht seine außergewöhnliche Messempfindlichkeit auch den Einsatz für anspruchsvolle Anwendungen.

Intuitive Nutzeroberfläche
Erfahren Sie mehr über das LUMOS.
Sehen Sie Beispiele wie der große Arbeitsabstand des LUMOS die Probenpräparation erleichtert.

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